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[IRCS News 438] 分析機能付き電子顕微鏡およびRoHS対応蛍光X線分析装置の原理と活用方法





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IRCS News ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━

         分析機能付き電子顕微鏡および
     RoHS対応蛍光X線分析装置の原理と活用方法
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 各種工業材料や部品破面の拡大観察や微小異物の成分測定に多用され
る分析機能付き電子顕微鏡、2006年7月から本格施行されるRoHS
/ELV対策には不可欠な蛍光X線分析装置、更に試料の精密な断面を
作製するクロスセクションポリッシャーの原理と活用方法について解説
します。
 また、同装置類の簡単な取扱説明を行いますので、是非ご参加くださ
い。

【 内容 】
(1)同装置の機器構成と測定原理
(2)同装置の特長と注意点
(3)同装置の利用分野(事例紹介)
(4)装置の実演と操作方法の概説

日 時  平成18年2月28日(火)13:15〜17:00
参加料  無料   (定員20名程度)
会 場   滋賀県東北部工業技術センター
     彦根市岡町52 TEL0749-22-2325
申込方法  参加申込書に必要事項を記入の上、FAX等(メール可)で
     お申し込み下さい。
申込先  〒522-0037 滋賀県彦根市岡町52番地  
           滋賀県東北部工業技術センター (彦根)
        TEL O749-22-2325  FAX O749-26-1779  
              担当:阿部   E-メール:abe@hik.shiga-irc.go.jp  
参加申込書:当所ホームページ(http://www.hik.shiga-irc.go.jp/);
      をご覧下さい。

  詳しくは、こちらをご覧下さい。 
  http://www.hik.shiga-irc.go.jp/kosh_hik/H17/SEM_annai.pdf
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