【終了】モノづくり技術力向上のための「技術研修」事業「基礎・原理から学ぶ技術セミナー」

　近年、装置の高度化、性能向上にともない、測定者に依存せず同じ結果を 正確に出すことができる装置やボタン一つの操作で結果が出る装置が増えて きています。これらの装置は基本技術を習得せずに操作・測定することが可 能であり、そのため本来測定に必要な基礎技術にふれる機会が減少していま す。
　今回、基礎的な話を聴く機会がない方、日常装置をご使用されている方やこれから使用される方に向けた「基礎、原理から学ぶセミナー」を開催いた します。
　皆さまのご参加をお待ちしております。

日時

令和元年 7月25日（木）　13:00 ～ 16:30

場所 

 滋賀県工業技術総合センター2F　大研修室

　（〒520-30004 滋賀県栗東市上砥山232）

    https://www.shiga-irc.go.jp/access/

共催

 株式会社三ツワフロンテック　

内容　

 ー いまさら聞けない　粒径・ゼータ電位・分子量　編 ー

第一部：講演

①「粒径・ゼータ電位測定の原理とｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝ紹介」

　　近年、新素材・新材料の研究・開発が盛んになっており、特に　超微粉体特有の微小性に関する機能を産業技術の一要素として取り込もうとする動きが活発化しています。今回はその中でも代表的な測定方法である光散乱法による粒子径測定・ゼータ電位測定の基本事項、測定原理、測定例を幅広く解説します。

②「静的光散乱法による分子量測定の原理とｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝ紹介」

近年のポリマーサイエンスでは、ポリマーの構造や形状をコントロールすることによる多機能化・高機能化が行われています。

　ポリマーの基本物性である分子量測定を行う際に、標準物質を用いて相対分子量を求めるGPC等の手法では、分岐鎖の多いポリマーでは誤差が発生する、使えない溶媒がある等、様々な制限が生じます。静的光散乱による絶対分子量測定は、これらの制限なく測定可能な測定方法であり、その特徴、測定の注意点、測定例などを幅広く解説します。

第二部：実習・デモンストレーション

　「実機を使用してデモンストレーションと解析結果の紹介」

※静的光散乱法に関してはモニターでの説明のみになります。

　　・粒度分布・ゼータ電位　ELSZ-2000を使用して標準サンプルの測定と解析　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　・静的光散乱に関しては測定結果を解析

・スケジュール等の詳細は下記案内をご覧ください。

　　　技術セミナー案内.pdf

講師

大塚電子株式会社　　橋田　紳乃介 氏

定員

60名（参加費無料）

申込方法

ホームページ上の下記のお申込みフォームからお申し込みください。

【申込締切：令和元年 7月22日(月)】

お問い合わせ先

滋賀県工業技術総合センター　　佐々木、神澤、田中
〒５２０－３００４　滋賀県栗東市上砥山２３２
TEL：０７７－５５８－１５００　FAX：０７７－５５８－１３７３